讲座简介：受激发射损耗显微镜（Stimulated emission depletion microscope）是第一个用来突破衍射极限的远场光学显微技术。STED采用两束组合激光，一束激光被聚焦成正常的衍射极限焦斑，使焦斑内的荧光分子处于激发态；另一束是中心光强为零成环形焦斑的损耗光，两束光进行叠加，损耗光通过受激发射过程损耗周边区域内的激发态荧光分子。因此，周边区域内的荧光分子被损耗，只剩下中心的荧光发光点，从而实现小于衍射极限的荧光发射面积。受激发射损耗超高分辨率共聚焦显微镜 xy分辨率≤50nm，z轴分辨率≤130nm。目前，STED技术已经被广泛用于神经生物学、病毒学和细胞生物学等研究领域。

培训仪器：激光共聚焦显微镜Leica SP8 gSTED 3X

培训内容：STED超高分辨共聚焦显微镜的原理、应用及样品制备方法。

培训时间：2021年12月17日（周五）9:30-17:00

培训日程：讲座培训：腾讯会议 9:30-11:30

上机培训：清华大学医学科学楼C119

               A组13:30-15:00      B组15:15-16:45

主讲人：刘继红 Leica资深应用工程师

联系方式： sunyue#mail.tsinghua.edu.cn孙老师（发送邮件时请将“#”替换成“@”）

报名方式：访问链接：http://sapphireking.mikecrm.com/MJkj579

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备注：

1. 报名截止时间：2021年12月16日 16:00;

2. 线上讲座校内外人员均可报名参加；由于疫情原因，上机培训每组限5人，仅限清华校内师生参加，欢迎自带样品进行测试。

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